Raccolta di Tecnologie e competenze ENEA
Laboratorio NIXT per analisi in raggi X di campioni mediante immagini, tomografia o spettroscopia nel range 2-120 keV o per calibrazione e messa a punto di rivelatori
Tecnologia che utilizza rivelatori a gas di tipo GEM gas detector o rivelatori a stato solido con sensori semiconduttori (silicio, cadmio-tellurio, diamante...) pixellati ed accoppiati con ASIC.
Laboratorio NIXT esterno
Laboratorio NIXT interno
Settori applicativi
Problema da risolvere
I campioni biologici o vegetali devono essere studiati (immagini o tomografie) solo a bassa energia (2-30 keV) e non esistono topografi commerciali ad energie così basse. Lo stesso vale per materiali leggeri o a basso numero atomico Le tecniche a raggi X standard non riescono a riconoscere materiali multistrato
Descrizione
Questa tecnologia permette di eseguire immagini ad alta risoluzione (55 micron) e contemporaneamente analisi spettrale a livello di singolo pixel. Questa combinazione aumenta enormemente la capacità di analisi del campione da studiare
Aspetti innovativi e vantaggi
- combina imaging e risoluzione spettrale
- permette l'analisi a bassa energia (2-30 keV) non possibile con dispostivi commerciali
Maturità tecnologica 7
Punti di forza
- Costo
- Rilevanza sociale/economica
- Contenuto normativo/regolatore
- Efficienza/rendimento/prestazioni
- Innovazione
Possibili applicazioni
- analisi in raggi X di campioni biologici o di materiali a basso numero atomico, come materiali plastici, fibre carbonio, materiali a bassa densità come schiume, leghe alluminio
- calibrazione di detector grazie alla combinazione di più rivelatori di immagini e spettroscopici in dotazione
Gruppo di ricerca coinvolto
Data di aggiornamento
25-06-2025
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