Direzione Trasferimento Tecnologico

Settori applicativi

Problema da risolvere

La caratterizzazione e la qualificazione di materiali e componenti possono essere effettuate con gli strumenti e grazie alle competenze presenti nel laboratorio. Il Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) consente lo studio della morfologia superficiale e della microstruttura in campioni conduttivi e non. Mediante Spettroscopia a Dispersione di Energia (EDS) è possibile riconoscere e quantificare gli elementi presenti nei campioni, mentre è possibile individuare le fasi cristalline e quantificarle mediante EBSD. E' possibile realizzare mappe degli elementi e della dimensione e orientazione dei grani. Possono essere osservati campioni conduttivi e non, cristallini e amorfi, organici e inorganici. Il SEM viene utilizzato anche per le analisi delle particelle e per frattografie e riconoscimento delle cause di rottura dei componenti. La diffrazione di Raggi X consente invece il riconoscimento delle fasi cristalline presenti in un campione sia in forma di polvere che massivo.

Descrizione

Il Laboratorio è dotato di: Microscopi Ottici, Microscopi elettronici a scansione (SEM), Diffrattometro di raggi X per indagini strutturali mediante diffrazione. Gli strumenti presenti presso i laboratori e le loro caratteristiche sono di seguito riportati: i) Microscopio elettronico a Scansione SEM EVO MA 15 della Zeiss (CR Casaccia) Tensione di accelerazione 0.2-30 kV. Sorgente a effetto termoionico. Equipaggiato con: Backscattered Electron Detector (BSD), Energy Dispersive Spectrometer (EDS), Electron Backscatter Diffraction Detector (EBSD). Può lavorare anche in modalità VP; ii) Microscopio elettronico a Scansione SEM Leo 1530 della Zeiss (CR Casaccia), Tensione di accelerazione 0.2-30 kV. Sorgente a emissione di campo di tipo Schottky. Equipaggiato con: Backscattered Electron Detector (BSD), Energy Dispersive Spectrometer (EDS); iii) Diffrattometro XRD SmartLab Rigaku (CR Casaccia): Diffrattometro con allineamento automatico delle ottiche, sorgente Cu ka (3kW X-Ray sealed tube) e rivelatore D/teX Ultra 250, 1D silicon strip detector con sottrazione dei fenomeni di fluorescenza. Possibilità di lavorare con capillare in modalità Convergent Beam (CBO-E). Sono inoltre presenti nei laboratori le strumentazioni necessarie per la preparativa dei campioni: taglierine, lucidatrici manuali e automatiche, sputtering (Au e Cr) e evaporatori (C, Al) per campioni non conduttivi, sistemi per attacchi elettrochimici.

Gruppo di ricerca coinvolto